Waveshare 08QN65T33030, Test & Burn-in Socket

Plastronics IC Test & Burn-in Socket er smart designet til QFN8, MLP8 og MLF8 pakker og sikrer præcision og pålidelighed i hver testcyklus.

Med sin robuste konstruktion leverer den en konsekvent ydeevne under burn-in tests med højt volumen, og forhindrer almindelige problemer som fejljustering og signaltab. Stikket har et kompakt design, der er ideelt til pladsmæssigt begrænsede opsætninger, hvilket gør det nemt at integrere i eksisterende testmiljøer.

Nyd en kortere cyklustid og længere levetid takket være det innovative kontaktsystem, der minimerer slid. Dets alsidighed understøtter forskellige anvendelser, fra prototyper til fuldskalatest, hvilket giver fleksibilitet og effektivitet.