Waveshare 16QN50S23030, Test & Burn-in Socket

Plastronics IC Test & Burn-in Socket tilbyder problemfri integration til QFN16, MLP16 og MLF16 pakker. Den er designet til præcision og pålidelighed, og sikrer optimal kontakt til krævende testbehov.

Med sit robuste design understøtter den højfrekvenstest, mens den minimerer signaltab. Stikkets innovative klapmekanisme giver nem adgang og øger effektiviteten under gentagne testcykler.

Konstrueret med holdbare materialer, kan det holde til ekstreme temperaturer, hvilket gør det ideelt til burn-in applikationer. Oplev uovertruffen ydeevne, mens det holder integriteten gennem flere testfaser.