Waveshare IC51-1764-1995-6, Test & Burn-in Sokkel

Oplev forbedret testeffektivitet med IC51-1764-1995-6, Yamaichi IC-test- og burn-in-sokkel. Den er designet til QFP176, TQFP176, FQFP176 og PQFP176 pakker og giver en pålidelig platform til at evaluere avancerede halvlederkomponenter.

Med et robust klapdesign sikrer socketen en sikker og effektiv kontakt, hvilket reducerer risikoen for skader på de sarte pins under testning. Brug af materialer i høj kvalitet garanterer holdbarhed og lang levetid, selv under omfattende termiske cyklusser.

Ideel til brug i en række test- og burn-in-applikationer gør IC51-1764-1995-6 det nemt at sætte IC-pakker i og tage dem ud, hvilket forbedrer gennemløbet markant. Den har super god evne til at lede varme væk, så den bliver ved med at køre stabilt, selv under hårde forhold.

Med sin brugervenlige betjening er denne sokkel designet til at gøre dine elektroniske testprocesser nemmere, ligesom en dirigent der guider et orkester til en harmonisk symfoni. Pålidelig, præcis og effektiv, denne sokkel er en vigtig del af enhver testopsætning.